聚焦离子/电子双束扫描电镜 （FIB）
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| 代艳竹 |
| 电话：029-83395023 |
| 邮箱： daiyanzhu@mail.xjtu.edu.cn |
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| 米少波 |
| 电话： |
| 邮箱： sbmi@imr.ac.cn |
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| 路璐 |
| 电话： |
| 邮箱： daisylu@mail.xjtu.edu.cn |
使用类型：
使用用途：
结合场发射扫描电子束和聚焦离子束，对样品进行纳米尺度超高分辨率的磨削、成像及分析，并用于高质量透射电镜样品的制备。
